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         X射線鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。適用于五金、電鍍、精品首飾、電子、手表、電路板等鍍層測(cè)量,如鍍金、銀、鎳等微小部位的高精度測(cè)量。

 

          隨著科技的進(jìn)步，尤其是近幾年微機(jī)技術(shù)的引進(jìn)，X射線鍍層測(cè)厚儀的采用正朝著微型化、智能化、多功能、高精度、實(shí)用化方向發(fā)展。測(cè)量分辨率達(dá)0.1微米，精密度可達(dá)1%，并有較大提高。應(yīng)用范圍廣，操作方便，價(jià)格低廉。是工業(yè)和科研中應(yīng)用的測(cè)厚儀。     

 

         X射線鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上的。強(qiáng)度的衰減將主要是由于材料對(duì)樣品的吸收，以及從樣品中反射的第二X射線的強(qiáng)度。測(cè)量了涂層等金屬膜的厚度。因?yàn)橛袠悠泛蚗射線輻照對(duì)樣品無接觸只有45-75w，所以不會(huì)造成樣品損傷。同時(shí)，測(cè)量也可以在10到幾分鐘內(nèi)完成。

 

        X射線鍍層測(cè)厚儀的特征:  

       1、可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。  

       2、CCD攝像機(jī)可以觀察和選擇小面積測(cè)量涂層的厚度，避免直接接觸或破壞被測(cè)物體。 

       3、擁有鍍層厚度測(cè)量和成分分析等250多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品。